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ARXPS analysis of Si-SiO₂- and Nb-Nb₂O₅-interfaces

Halbritter, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kernphysik (IK)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1987
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230024731
Erscheinungsvermerk Vortr.: Universitaet Paris, 9.Juni 1987
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