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ARXPS analysis of Si-SiO₂- and Nb-Nb₂O₅-interfaces
Halbritter, J.
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Zugehörige Institution(en) am KIT
Institut für Kernphysik (IK)
Publikationstyp
Vortrag
Publikationsjahr
1987
Sprache
Englisch
Identifikator
KITopen-ID: 230024731
Erscheinungsvermerk
Vortr.: Universitaet Paris, 9.Juni 1987
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