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Truncated sequential tests for material control problems

Beedgen, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Datenverarbeitung in der Technik (IDT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1988
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230026498
Erscheinungsvermerk European Conf.on Mathematics in Industry, Glasgow, GB, August 28-31, 1988
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