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Grenzflaechenuntersuchungen an TiC/TiB₂-Hartstoffen mit hochaufloesender Auger-Elektronenspektroskopie

Nold, E.; Holleck, H.; Leiste, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1988
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 230027035
Erscheinungsvermerk 5.Arbeitstagung Angewandte Oberflaechenanalytik, Juelich, 21.-24.Juni 1988
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