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Messverfahren zur Bestimmung der komplexen Suszeptibilitaet duenner Supraleiter-Schichten

Arndt, T.; Windte, V.; Schauer, W.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1990
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 230028745
HGF-Programm 13.03.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Fruehjahrstagung DPG, Festkoerperphysik, Duenne Schichten, Dynamik und Statistische Physik, Halbleiterphysik, Magnetismus, Metallphysik, Oberflaechenphysik, Tiefe Temperaturen, Vakuumtechnik, Molekuelphysik, Physikausstellung, Regensburg, 26.-30.Maerz, 1990 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, Bd.25 (1990) TT-10.34
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