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Measurement of the magnetic penetration depth of YBa₂Cu₃O₇₋sub(d)ₑsub(l)sub(t)ₐ thin films using superconducting microstrip resonators

Langley, B.; Anlage, S. M.; Halbritter, J.; Switz, N.; Beasley, M. R.; Pease, R. F. W.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1990
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230029334
HGF-Programm 13.03.02 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk March Meeting of the American Physical Society, Anaheim, Calif., March 12-16, 1990 Bulletin of the American Physical Society, 35(1990) (Abstract)
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