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Microstructure and RF properties of YBa₂Cu₃O₇ thin films

Taber, R.; Laderman, S.; Newman, N.; Char, K.; Anlage, S. M.; Eom, C. B.; Fork, D. K.; Halbritter, J.; Hylton, T.; Lairson, B.; Marshall, A.; Streiffer, S.; Bravman, J.; Geballe, T. H.; Beasley, M. R.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1990
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230029336
HGF-Programm 13.03.02 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk March Meeting of the American Physical Society, Anaheim, Calif., March 12-16, 1990 Bulletin of the American Physical Society, 35(1990) (Abstract)
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