Quantitative analysis of ionic solids by secondary neutral mass spectrometry

Fichtner, M.; Goschnick, J.; Schmidt, U. C.; Schweiker, A.; Ache, H. J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1990
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230029597
HGF-Programm	12.05.06 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	37th Symp.of the American Vacuum Society, Toronto, CDN, October 8-12, 1990