ARXPS-analysis of TiC,SiC and TiC/SiC sputtered layers
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1992 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230032330 |
| HGF-Programm | 41.03.02 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 7.Arbeitstagung Angewandte Oberflaechenanalytik, Juelich, 22.-25.Juni 1992 Kurzfassungen der Vortraege |