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Flach, B.; Guth, H.; Osterland, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1992
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230032601
HGF-Programm 44.04.01; LK 01
Erscheinungsvermerk 14.DAGM-Symp. Mustererkennung, Dresden, 14.-16.September 1992
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