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Depth-resolved chemical analysis of environmental microparticles by secondary mass spectrometry

Goschnick, J.; Fichtner, M.; Lipp, M.; Schuricht, J.; Ache, H.J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1992
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230032941
HGF-Programm 22.02.05; LK 01
Erscheinungsvermerk 12th Internat.Vacuum Congress and 8th Internat.Conf.on Solid Surfaces, Den Haag, NL, October 12-16, 1992
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