Depth-resolved chemical analysis of environmental microparticles by secondary mass spectrometry

Goschnick, J.; Fichtner, M.; Lipp, M.; Schuricht, J.; Ache, H. J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1992
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230032941
HGF-Programm	22.02.05 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	12th Internat.Vacuum Congress and 8th Internat.Conf.on Solid Surfaces, Den Haag, NL, October 12-16, 1992