ARXPS-Analyse oxidierter (0001)- und (0001⁻)-Oberflächen von 6H-SiC Einkristallen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1994 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230035293 |
| HGF-Programm | 31.02.01 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik bei der DPG, gemeinsame Tagung mit der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft -Fachausschuss Festkörperphysik-, Nederlandse Natuurkundige Vereniging -Dynamik und Statistische Physik-, Fachbereich Physik der Westfälischen Wilhelms-Universität Münster, Dielektrische Festkörper, Dünne Schichten, Dynamik und Statistische Physik, Halbleiterphysik, Magnetismus, Metallphysik, Oberflächenphysik, Tiefe Temperaturen, Vakuumphysik und -technik, Chemische Physik, Mathematische Modellierung von Festkörpereigenschaften, Physik und Fachbuchausstellung, Münster, 21.-25.März, 1994 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, Bd.29 (1994) O 22.15 |