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ARXPS-Analyse oxidierter (0001)- und (0001⁻)-Oberflächen von 6H-SiC Einkristallen

Hornetz, B.; Michel, H.J.; Dohnke, K.O.; Stein, R.; Halbritter, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1994
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 230035293
HGF-Programm 31.02.01; LK 01
Erscheinungsvermerk Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik bei der DPG, gemeinsame Tagung mit der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft -Fachausschuss Festkörperphysik-, Nederlandse Natuurkundige Vereniging -Dynamik und Statistische Physik-, Fachbereich Physik der Westfälischen Wilhelms-Universität Münster, Dielektrische Festkörper, Dünne Schichten, Dynamik und Statistische Physik, Halbleiterphysik, Magnetismus, Metallphysik, Oberflächenphysik, Tiefe Temperaturen, Vakuumphysik und -technik, Chemische Physik, Mathematische Modellierung von Festkörpereigenschaften, Physik und Fachbuchausstellung, Münster, 21.-25.März, 1994 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, Bd.29 (1994) O 22.15
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