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Charakterisierung von Gassensorelementen aus SiO₂/SnO₂-Doppelschichten mit XPS, SNMS und SIMS

Althainz, P.; Dahlke, A.; Ehrmann, S.; Goschnick, J.; Ache, H.J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1994
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 230036044
HGF-Programm 41.03.02; LK 01
Erscheinungsvermerk 8. Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik (AOFA8), Kaiserslautern, 5.-8.September 1994
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