ARXPS-Charakterisierungen an PVD-hergestellten SnO₂-Schichten
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1994 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230036399 |
| HGF-Programm | 41.02.02 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 8. Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik (AOFA8), Kaiserslautern, 5.-8.September 1994 Beitragskurzfassungen |