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ARXPS-Charakterisierungen an PVD-hergestellten SnO₂-Schichten

Michel, H.J.; Leiste, H.; Halbritter, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1994
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 230036399
HGF-Programm 41.02.02 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 8. Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik (AOFA8), Kaiserslautern, 5.-8.September 1994 Beitragskurzfassungen
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