ARXPS-studies of SiO₂-SiC interfaces on 6H SiC single crystal (001)Si- and (001) C-surfaces
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1994 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230036854 |
| HGF-Programm | 31.02.01 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | Fall Meeting of the Materials Research Society, Boston, Mass., November 28 - December 2, 1994 |