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Kann die Messung der Oberflächenimpedanz Hinweise auf diffuse Oberflächenstreuung liefern?

Zuccaro, C.; Rieck, C.T.; Scharnberg, K.; Halbritter, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1995
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 230037043
HGF-Programm 41.02.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 150 Jahre Deutsche Physikalische Gesellschaft : 59.Physikertagung gemeinsam mit der Frühjahrstagung DPG des Arbeitskreises Festkörperphysik, Berlin, 20.-24.März 1995 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, Bd.30 (1995) TT 10.10
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