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Depth-resolved chemical characterisation of solid environmental microparticles with secondary mass spectrometry

Bentz, J.W.G.; Faude, F.; Schuricht, J.; Goschnick, J.; Ache, H.J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1995
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230037461
HGF-Programm 22.01.08 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Symp.Regio Surface, Freiburg, February 20-22, 1995
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