Depth-resolved chemical characterisation of solid environmental microparticles with secondary mass spectrometry

Bentz, J. W. G.; Faude, F.; Schuricht, J.; Goschnick, J.; Ache, H. J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1995
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230037461
HGF-Programm	22.01.08 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	Symp.Regio Surface, Freiburg, February 20-22, 1995