Application of scanning probe microscopes in material science
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1995 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230038424 |
| HGF-Programm | 52.01.23 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | Vortr.: Inst.of Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing, China, 12.Oktober 1995 |