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Application of scanning probe microscopes in material science

Blanckenhagen, P.von; Göbel, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1995
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230038424
HGF-Programm 52.01.23 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Vortr.: Inst.of Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing, China, 12.Oktober 1995
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