Tiefenkalibrierung für Untersuchungen von Umweltproben mit Plasma-SNMS

Bentz, J. W. G.; Goschnick, J.; Schuricht, J.; Sommer, M.; Ache, H. J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1996
Sprache	Deutsch
Identifikator	KITopen-ID: 230039444
HGF-Programm	22.01.07 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	9.Arbeitstagung 'Angewandte Oberflächenanalytik', Aachen, 24.-27.Juni 1996