Depth analysis of pollen exposed to atmospheric trace gases using SNMS, SIMS and XPS
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1996 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230039448 |
| HGF-Programm | 22.01.07 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 9.Arbeitstagung 'Angewandte Oberflächenanalytik', Aachen, 24.-27.Juni 1996 |