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Depth analysis of pollen exposed to atmospheric trace gases using SNMS, SIMS and XPS

Goschnick, J.; Schuricht, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1996
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230039448
HGF-Programm 22.01.07; LK 01
Erscheinungsvermerk 9.Arbeitstagung 'Angewandte Oberflächenanalytik', Aachen, 24.-27.Juni 1996
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