Application of the scanning force microscope in structuring and in temperature dependent analysis of nanostructures
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1996 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230040362 |
| HGF-Programm | 52.01.03 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 4th Internat.Conf.on Nanometer-Scale Science and Technology (NANO IV), Beijing, China, September 8-12, 1996 |