KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Application of the scanning force microscope in structuring and in temperature dependent analysis of nanostructures

Blanckenhagen, P.von; Jacobs, L.; Göbel, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1996
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230040362
HGF-Programm 52.01.03; LK 01
Erscheinungsvermerk 4th Internat.Conf.on Nanometer-Scale Science and Technology (NANO IV), Beijing, China, September 8-12, 1996
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page