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Quantification of elemental concentrations and depth distribution of environmental material with plasma-based SNMS

Goschnick, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1996
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230040394
HGF-Programm 22.01.07; LK 01
Erscheinungsvermerk Post Ionisation Techniques for Surface Analysis, Argonne, Ill., October 7-12, 1996
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