Quantification of elemental concentrations and depth distribution of environmental material with plasma-based SNMS
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1996 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230040394 |
| HGF-Programm | 22.01.07 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | Post Ionisation Techniques for Surface Analysis, Argonne, Ill., October 7-12, 1996 |