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Nondestructive testing and determination of thermal parameters in thin films and microcomponents with photothermal methods

Rohde, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230041837
HGF-Programm 41.02.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 13th Symp.on Thermophysical Properties, Boulder, Colo., June 22-27, 1997
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