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Nondestructive testing and determination of thermal parameters in thin films and microcomponents with photothermal methods

Rohde, M.



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seit 15.05.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230041837
HGF-Programm 41.02.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 13th Symp.on Thermophysical Properties, Boulder, Colo., June 22-27, 1997
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