Nondestructive testing and determination of thermal parameters in thin films and microcomponents with photothermal methods
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1997 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230041837 |
| HGF-Programm | 41.02.03 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 13th Symp.on Thermophysical Properties, Boulder, Colo., June 22-27, 1997 |