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Investigation of basic interface properties of advanced materials applicable to chemical sensors

Hoffmann, W.; Bychkov, E.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230042472
HGF-Programm 41.02.04 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk COPERNICUS-INTAS Workshop, Bruxelles, B, November 18-19, 1997
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