Temperature dependent study of Mo/Fe multilayer systems by scanning force microscopy

Shen, D. H.; Berlinger, A.; Nold, E.; Blanckenhagen, P. von

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1997
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230042620
HGF-Programm	52.01.31 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	9th Internat.Conf.on Scanning Tunneling Microscopy and Related Techniques, Hamburg, July 20-25, 1997