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Creation and analysis of nano-scale Al islands by STM

Hu, X.; Blanckenhagen, P.von



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seit 14.05.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230042621
HGF-Programm 52.01.31 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 9th Internat.Conf.on Scanning Tunneling Microscopy and Related Techniques, Hamburg, July 20-25, 1997
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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