Ultrathin Al layers on Si(111)
Gröger, R.; Barczewski, M.
; Berlinger, A.; Blanckenhagen, P. von
; Berlinger, A.; Blanckenhagen, P. von| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1997 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230042624 |
| HGF-Programm | 52.01.31 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | Workshop 'Fundamentals of Nanometer-Scale Structuring: Applications of Scanning Probe Microscopy and Selforganisation Processes' Karlsruhe, July 28-31, 1997 |