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Ultrathin Al layers on Si(111)

Gröger, R.; Barczewski, M.; Berlinger, A.; Blanckenhagen, P.von



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230042624
HGF-Programm 52.01.31 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Workshop 'Fundamentals of Nanometer-Scale Structuring: Applications of Scanning Probe Microscopy and Selforganisation Processes' Karlsruhe, July 28-31, 1997
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