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Temperature dependent measurement of surface-selfdiffusion with high lateral resolution by application of scanning force microscopes

Göbel, H.; Jacobs, L.; Blanckenhagen, P.von; Schommers, W.; Ehrlich, K.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230042627
HGF-Programm 52.01.31 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Micro Materials '97, Berlin, April 16-18, 1997
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