A scanning probe microscopy study of the temperature and time dependence of the structure of nano-cluster systems

Dong, Y. H.; Hu, X.; Gao, L. W.; Shen, D. H.; Zhou, J. M.; Blanckenhagen, P. von; Schommers, W.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1997
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230042628
HGF-Programm	52.01.31 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	Micro Materials '97, Berlin, April 16-18, 1997