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Anwendung der Rastersondenmikroskopie zur quantitativen Analyse und zur Strukturierung von Materialoberflaechen

Blanckenhagen, P.von



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seit 14.05.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1997
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 230042629
HGF-Programm 52.01.31 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Micro Materials '97, Berlin, April 16-18, 1997
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