Bolometric measurement of AC losses: a novel approach for short sample lengths

Chakraborty, N.; Volkozub, A. V.; Caplin, A. D.; Dhalle, M.; Polcari, A.; Marti, F.; Grasso, G.; Huang, Y. B.; Flükiger, R.; Eckelmann, H.; Quilitz, M.; Goldacker, W.

Bolometric measurement of AC losses: a novel approach for short sample lengths

Chakraborty, N.; Volkozub, A. V.; Caplin, A. D.; Dhalle, M.; Polcari, A.; Marti, F.; Grasso, G.; Huang, Y. B.; Flükiger, R.; Eckelmann, H.; Quilitz, M.; Goldacker, W.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1998
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230043320
HGF-Programm	34.01.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	Internat.Cryogenic Materials Conf., Enschede, NL, May 10-13, 1998

Repository KITopen

Bolometric measurement of AC losses: a novel approach for short sample lengths