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Charakterisierung von Glasanteilen silikatischer industrieller Rückstände durch Röntgenstreuexperimente

Göttlicher, J.; Ebener, S.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Chemie - Bereich Wasser- und Geotechnologie (ITC-WGT) (ITC-WGT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1998
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 230043478
HGF-Programm 21.15.02 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Tagung Technische und Angewandte Mineralogie der Deutschen Mineralogischen Gesellschaft, Halle, 14.-16.Juni 1998
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