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Bestimmung von Edelmetalldotierungen in Metalloxidschichten auf nichtleitenden Substraten mit SNMS

Natzeck, G.; Goschnick, J.; Frietsch, M.; Bruns, M.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1998
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 230043726
HGF-Programm 41.05.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 10.Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik (AOFA10), Kaiserslautern, 6.-10.September 1998
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