Anwendung von Feldemissions-Elektronenmikroskopie (FE-REM) und Rasterkraftmikroskopie (AFM) bei der Untersuchung neuer Katalysatoren

Habicht, W.; Behrens, S.; Boukis, N.; Dinjus, E.; Bönnemann, H.; Endruschat, U.; Baum, M.; Unger, E.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	ITC – Bereich Chemisch-Physikalische Verfahren (ITC-CPV)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1998
Sprache	Deutsch
Identifikator	KITopen-ID: 230043930
HGF-Programm	21.12.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	Arbeitskreis für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen EDO, 31. Herbsttagung, Saarbrücken, 28.-30.September 1998 (Poster)