Sensitivity calibration for high-frequency mode SNMS for the analysis of the depth distribution of environmental particles
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230044409 |
| HGF-Programm | 22.03.03 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | Asian and Pacific Surface and Interface Analysis Conf. (APSIA), Singapore, SGP, November 30 - December 4, 1998 |