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Sensitivity calibration for high-frequency mode SNMS for the analysis of the depth distribution of environmental particles

Goschnick, J.; Natzeck, C.; Sommer, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230044409
HGF-Programm 22.03.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Asian and Pacific Surface and Interface Analysis Conf. (APSIA), Singapore, SGP, November 30 - December 4, 1998
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