Quantitative X-ray microanalysis of beryllium by use of a synthetic mulitlayer structure
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230044493 |
| HGF-Programm | 31.06.10 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 11th CAMECA Users Meeting, Paris, F, April 1-3, 1998 |