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Quantitative X-ray microanalysis of beryllium by use of a synthetic mulitlayer structure

Kleykamp, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230044493
HGF-Programm 31.06.10 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 11th CAMECA Users Meeting, Paris, F, April 1-3, 1998
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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