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Temperaturabhängige Korngrenzenanalyse am Beispiel von nanokristallinem Gold

Blanckenhagen, P. von


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1998
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 230044528
HGF-Programm 52.02.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Workshop Einsatz neuer Mikroskopietechniken (AFM) in der Metallindustrie, Saarbrücken, 28.Januar 1998
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