A RHEED, SPA-LEED, and AFM analysis of the phase transitions at Si(111) and Al/Si(111) surfaces
Blanckenhagen, P. von; Barczewski, M.
; Gröger, R.
; Gröger, R.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230044529 |
| HGF-Programm | 52.02.01 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | Workshop zur Reflexprofilanalyse von fehlgeordneten Oberflächen, München, 1.-3.April 1998 |