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A RHEED, SPA-LEED, and AFM analysis of the phase transitions at Si(111) and Al/Si(111) surfaces

Blanckenhagen, P. von; Barczewski, M.; Gröger, R.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230044529
HGF-Programm 52.02.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Workshop zur Reflexprofilanalyse von fehlgeordneten Oberflächen, München, 1.-3.April 1998
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