Applications of scanning probe microscopy in materials science: examples of surface modifications and quantitative analysis
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230044530 |
| HGF-Programm | 52.02.01 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | Internat.Meeting on Scanning Probe Microscopy, Baltimore, Md., May 9-13, 1998 |