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Messung und Analyse von Leitwertfluktuationen in Nanometerdrähten

Vom Stein, P.; Schäfer, R.; Wallisser, C.; Hein, H.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Festkörperphysik (IFP)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1999
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 230045072
HGF-Programm 43.01.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik bei der DPG, Münster, 22.-26.März 1999 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, Bd.34 (1999) TT 9.35
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