Aufbau einer Filtertechnik zur Messung von Einzelelektroneneffekten an Al/Al₂O₃/Al-Tunnelkontakten

Wallisser, C.; Sypli, A.; Limbach, B.; Kaus, S.; Schäfer, R.; Vom Stein, P.; Hein, H.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Festkörperphysik (IFP) Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1999
Sprache	Deutsch
Identifikator	KITopen-ID: 230045073
HGF-Programm	43.01.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik bei der DPG, Münster, 22.-26.März 1999 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, Bd.34 (1999) TT 9.36