Measurement and analysis of conductance fluctuations in diffusive point contacts

Vom Stein, P.; Wallisser, C.; Schäfer, R.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Festkörperphysik (IFP)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1999
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230045374
HGF-Programm	43.01.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	Localization 1999, Hamburg, July 30 - August 3, 1999