Energieaufgelöste Tiefenprofilierung von Schichtsystemen mit Plasma-SNMS
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230045650 |
| HGF-Programm | 22.03.03 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 10.Tagung Festkörperanalytik, Wien, A, 5.-7.Juli 1999 |