Application of high frequency charge compensation to the analysis of non-conductive environmental material with plasma-based SNMS
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230045991 |
| HGF-Programm | 22.03.03 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 12th Internat.Conf.on Secondary Mass Spectrometry and Related Topics (SIMS XII), Bruxelles, B, September 5-10, 1999 |