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Application of high frequency charge compensation to the analysis of non-conductive environmental material with plasma-based SNMS

Goschnick, J.; Natzeck, C.; Sommer, M.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230045991
HGF-Programm 22.03.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 12th Internat.Conf.on Secondary Mass Spectrometry and Related Topics (SIMS XII), Bruxelles, B, September 5-10, 1999
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