Investigation of Csub(m)Hsub(n) negative secondary ions in dynamic SIMS for improving the chemical characterisation of nitrogen in organic materials
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230045993 |
| HGF-Programm | 22.03.03 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 12th Internat.Conf.on Secondary Mass Spectrometry and Related Topics (SIMS XII), Bruxelles, B, September 5-10, 1999 |