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Noble metal doped metal oxide thin films for gas sensor micro arrays. Production and surface analytical characterization

Bruns, M.; Lutz, H.; Geckle, U.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230046232
HGF-Programm 41.05.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 8th European Conf.on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA '99), Sevilla, E, October 4-8, 1999
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