Structural and dielectric properties of SrTi₁₋ₓO₃₋sub(δ) thin films

Fuchs, D.; Adam, M.; Schweiss, P.; Gerhold, S.; Schuppler, S.; Schneider, R.; Obst, B.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Festkörperphysik (IFP) Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1999
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230046290
HGF-Programm	34.01.02 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	6th Internat.Workshop on Oxide Electronics, College Park, Md., December 6-7, 1999