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Measurement of interface stress and interface deformation in nanocrystalline Pd-H

Lemier, C.; Weissmüller, J.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230046906
HGF-Programm 43.01.02 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk EUROMAT 99 : Internat.Congress on Advanced Materials and Processes, hosted by 'Werkstoffwoche' and 'Materialica', München, September 27-30, 1999
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