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Messung des Lorentzwinkels in Silizium von Raumtemperatur bis 77 K

Heising, S.; de Boer, W.; Bol, J.; Hauler, F.; Jungermann, L.; Schneider, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kernphysik (IK)
Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2000
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 230047079
HGF-Programm 34.02.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 64.Physikertagung gemeinsam mit der Frühjahrstagung DPG, Dresden, 20.-24. März 2000 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, Bd.35 (2000) T 403.9
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