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Noise-induced currents through a metallic single-electron transistor

Wallisser, C.; Limbach, B.; Vom Stein, P.; Schäfer, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Festkörperphysik (IFP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230047568
HGF-Programm 43.01.05 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk European Meeting on the Technology and Application of Single Electron Tunneling (SET) Devices, Braunschweig, June 5-6, 2000
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