Tritium depth profiling in carbon samples from fusion experiments

Friedrich, M.; Pilz, W.; Sun, G.; Behrisch, R.; Garcia-Rosales, C.; Penzhorn, R. D.; Bekris, N.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Hauptabteilung Versuchstechnik (HVT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2000
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230048033
HGF-Programm	31.07.02 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	AMS-8 (AMS = Accelerator Mass Spectrometry), Wien, A, September 6-10, 1999