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Tritium depth profiling in carbon samples from fusion experiments

Friedrich, M.; Pilz, W.; Sun, G.; Behrisch, R.; Garcia-Rosales, C.; Penzhorn, R.D.; Bekris, N.



Zugehörige Institution(en) am KIT Hauptabteilung Versuchstechnik (HVT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230048033
HGF-Programm 31.07.02; LK 01
Erscheinungsvermerk AMS-8 (AMS = Accelerator Mass Spectrometry), Wien, A, September 6-10, 1999
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